中山速度表校准检测计量检验

几何量类：开展的检定／校准项目： 量块、平晶、干涉仪、测长仪、经纬仪、水准仪、测厚仪、光学计、投影仪、影像测绘仪、工具显微镜、电动轮廓仪、气动量仪、偏摆仪、测微仪、、直角尺检定仪、百分表检定仪、千分表检定仪、量仪测力仪、水平仪零位检定器、测量显微镜、读数显微镜、光学平直仪、水平尺、电子水平仪、合象水平仪、框式水平仪、平板、平尺、宽座角尺、刀口尺、线纹钢直角尺、角尺、卡尺、千分尺、指示表、内径表、杠杆表、数显表、钢卷尺、钢直尺、塞尺、工程检测尺、方箱、环规、螺纹量规、表面粗糙度样块、半径样板、螺纹样板、滑板式汽车侧滑检验台。对有关长度、角度、粗糙度、平面度、线纹、端度、形状与相互位置的量值进行校准。
E6601A是安捷司新一代综测仪平台，旨在为手机制造商提供低成本的校准方案。它采用开放式Windows®XP平台，用户能够在测试仪上直接开发、和执行测试程序，大大节省了传统测试系统空间和成本；其为高速测量而设计的全新测量架构和业界的精度、可重复性和测量完整性，能够**降低手机测试成本；其灵活的许可证，使用户能够通过购买适合其制造需要的许可证选件，来有效地降低设备成本，优化资源利用。
手机射频校准主要包括发射机功率校准、接收机增益校准和VCO(压控振荡器)/频率校准三部分：
1)发射机功率校准分为同一频率上不同功率等级的校准和某一功率等级上不同频率上的校准两种，实际操作中通过命令手机在特定的频率和功率等级上发射上行信号，由综测仪测量手机的实际发射功率，从而**手机在整个工作频段内发射功率的平坦度和整个动态范围内的线性度达到设计要求。
2)接收机增益校准要求综测仪产生在不同的频率规定功率级别上发射标准信号，手机测量接收信号强度RSSI，从而校准手机接收通路的增益。
3)VCO/频率校准可以有两种方法：方法一是让综测仪发射频率的信号，手机根据标准信号调整其VCO；方法二是让手机在未与网络同步的条件下发射频率的信号，综测仪测出其频率误差，从而调整手机的VCO。
1)多样灵活的信号源功能：E6835A可产生TD-SCDMA调制信号，连续波信号(CW)，幅度调制信号(AM)，频率调制信号(FM)和双边带抑制载波信号(DSB-SC)，为不同芯片厂商手机校准的不同需求提供了有力**。
2)完整的测量功能：E6835A提供了多种符合测试标准的测量功能，如信道功率(带RRC滤波器的功率测试和不带RRC滤波器的功率测试),邻信道功率比(ACLR)，频谱杂散(SEM)，EVM,频率误差、峰值码域功率，频谱分析等。
3)此外，E6835A还提供了手机发射机快速校准方案-动态功率校准功能。它能够一次完成同一频率上不同功率等级上发射机输出功率的校准，从而大大提高手机发射机校准的效率。

常见仪器计量校准：
高频电压、高频功率、接收机、衰减：高频探头、滤波器、测量接收机、衰减器、功率放大器、大功率计等。
模拟信号发生器、集中参数阻抗：扫频仪、LF/RF信号发生器、低频信号源、高频信号源、音频分析仪、标准信号发生器、微波信号源、电平振荡器、扫频信号发生器、扬声器Fo测试仪、噪声信号源、信纳表等。
PCB参数、射频网络参数：频谱分析仪、阻抗分析仪、调制度、失真度、电磁兼容EMI接收机等。
综合测试仪、矢量信号分析仪、数字信号发生器电话分析仪：电话分析检测设备等。
传输分析仪、数字通信网络分析仪、基站测试仪：综合测试仪、手机基站测试仪逻辑分析仪、视频参数、调制度：视频参数、电视信号发生器、AM/FM调制度仪、电视场强仪等。
网络分析仪、射频参数、脉冲参数（示波器）抖晃、Q表：各类示波器、示波器校准仪、脉冲参数/示波器、示波器校准仪、抖晃、CD抖晃、频谱分析仪、综合分析仪、扫频仪、滤波器等。

时间频率计量器具
原子频率标准、石英晶体频率标准、频率合成器、频标比对器、相位噪声测量装置、比相仪、彩色电视副载频校频仪、频率计、频率表、频率计数器、时间间隔计数器、时间合成器、原子钟、标准石英钟、精密钟检定仪、精密钟、航海钟、校表仪、时钟检定仪、秒表检定仪、秒表、电子毫秒表、电子计时器。
7.声学计量器具
测量用传声器、标准传声器、声级校准器、声级计、杂音计、声学标准噪声源、倍频程与1/3倍频程滤波器、仿真耳、水听器、听力计、耳机测量标准耦合腔、助听器测量仪、超声功率计、超声源。
8.光学计量器具
光学标准灯、微弱光标准、积分球、脉冲光测量仪、光探测器、照度计、亮度计、色温计、标准黑体、标准色板、色差计、白度计、测色光谱光度计、标准滤、感光度标准、感光仪、光密度计、激光能量计、激光功率计、激光源、标准鉴别率板、折射计、焦距仪、光学传递函数仪、屈光度计、验光镜片、验光机、光泽度计。

服务范围:
1.长度仪器计量器具：
比长仪、干涉仪、稳频激光器、测长机、测长仪、工具显微镜、读数显微镜、光学计、测量用投影仪、三坐标测量仪、球径仪、球径仪样板、圆度仪、锥度测量仪、孔径测量仪、比较仪、测微仪、光学仪器检具、量块、尺、基线尺、线纹尺、光栅尺、光栅测量装置、磁尺、容栅尺、水准标尺、感应同步器、测绳、卡尺、千分尺、百分表、千分表、测微计、小孔内径表、平晶、刀口尺、棱尺、平尺、测量平板、木直尺检定器、千分尺检具、百分表检定器、千分表检定仪、测微仪检定器、多面棱体、度盘、测角仪、分度台、分度头、准直仪、角度块、角度规、直角尺、正弦尺、方箱、水平仪、象限仪、直角尺检定仪、水平仪检定器、塞规、卡规、环规、圆锥套规、塞尺、半径样板、螺纹量规、螺纹样板、三针、粗糙度样板、粗糙度测量显微镜、表面轮廓仪、齿轮渐开线检查仪、齿轮周节检查仪、齿轮基节检查仪、齿轮啮合检查仪、齿轮径向跳动检查仪、齿轮螺旋线检查仪、齿法线检查仪、正规齿厚规、测齿仪、齿轮参数综合测量仪、齿轮渐开线样板、齿轮螺施线样板、丝杠检查仪、经纬仪、水准仪、平板仪、测高仪、高度表、测距仪、测厚仪、检查仪、轴承检查仪、面积计、皮革面积板。
校准是为了避免仪器偏差，而制定校准周期则是为使仪器或标准件能时时保持稳定。因此，校准周期应根据使用的目的、程度及准确度需求，以统计方法及经验判断所推导出来信赖度的送校间隔时间。影响校准周期制定的因素很多，其中以制造厂商的建议、仪器和标准件使用程度、环境状况、测量准确度和校准成本等之影响。